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浅谈ATE PCIe 测试--3

时间:2025-06-26 19:29来源:FreyaW 半导体ATE测试 作者:ictest8_edit 点击:

 

在了解了PCIe 通信原理,编解码方式,并以Gen3 为例实际了解PCIe 信号传输流程后我们来继续一起学习PCIe 的ATE 测试--以确保DUT 内PCIe 设备均正确链接。

PCIe作为一种高速接口标准,其设计已实现IP模块化。采用PCIe协议的芯片设计公司(Design House)通常会从第三方IP供应商(IP Vendor)采购经过量产验证的成熟PCIe IP核,并将其集成到自有芯片中。出于测试成本、模块失效率及测试覆盖率等因素的综合考量,Design House通常仅依据供应商提供的规范(Vendor Spec)对PCIe模块进行内部环回(Internal LoopBack)测试。

而IP供应商则需要对PCIe IP进行全面的功能验证,包括但不限于:
· 唤醒功能
· 重启保护机制
· 传输速率,性能测试
· 信号完整性分析
· 眼图质量(包括眼宽测量)
· 抖动(Jitter)性能测试

本文将重点介绍Design House在ATE(自动测试设备)环境下对PCIe模块的关键测试项目:
1. PCIe BERT(误码率测试)BIST(内置自测试)
2. PCIe IC内部环回(Internal Loopback)测试
3. PCIe物理层(Phy)发射端直流(Tx DC)参数测试
4. PCIe物理层发射端共模电压(Tx Vcm)测试
5. PCIe物理层低频周期信号(LFPS)测试
6. PCIe物理层检测(Detect)功能测试

一. PCIe 常见ATE 测试项目解析

1. PCIe BERT BIST 测试

测试原理
· BERT(Bit Error Rate Test):通过发送伪随机码型(PRBS7/PRBS31),统计接收端误码率(BER)。
· BIST(Built-In Self-Test):利用芯片内部自测试逻辑生成/校验数据,减少ATE依赖。

检测模块
· 物理层(PHY):SerDes收发器
· 数据链路层:CRC校验模块

关键Channel
· TX/RX差分对(需测试所有Lane)

常见失效 & Debug
失效现象 可能原因 Debug方法
BER >1E-12 信号完整性差(ISI、串扰) 检查S参数、调整均衡(CTLE/DFE)
链路训练失败 时钟抖动过大 测量REFCLK相位噪声

2. PCIe IC Internal Loopback 测试

测试原理
· 在芯片内部将TX直接连接至RX(绕过PCB和连接器),验证PHY基本功能。

检测模块
· SerDes:串行化/解串行化功能
· 时钟恢复(CDR)

关键Channel
· 仅需测试芯片内部路径(不涉及外部PCB)

常见失效 & Debug
失效现象 可能原因 Debug方法
误码率高 PHY内部逻辑缺陷 扫描PMA寄存器,检查均衡参数
环回模式无法使能 寄存器配置错误 验证JTAG访问权限

3. PCIe PHY Tx DC 测试

测试原理
· 测量TX端差分信号的直流特性:

共模电压(Vcm):理想值为0V(差分对称性)
差分电压(Vdiff):Gen3典型值800mV~1200mV

检测模块
· TX驱动器(输出级晶体管)

关键Channel
· TX+/TX-差分对

常见失效 & Debug
失效现象 可能原因 Debug方法
Vdiff超范围 驱动器偏置电流异常 检查电源电压、偏置电路
Vcm偏移过大 差分对不对称 测量单端阻抗,检查PCB对称性

4. PCIe PHY Tx Vcm 测试

测试原理
· 验证TX端共模电压(Vcm)是否稳定(通常要求±50mV以内)。

检测模块
· 共模反馈电路(CMFB)

关键Channel
· TX+/TX-差分对

常见失效 & Debug
失效现象 可能原因 Debug方法
Vcm漂移 电源噪声或CMFB失效 检查AVDD电源纹波,测试CMFB响应

5. PCIe PHY LFPS 测试

测试原理
· LFPS(Low Frequency Periodic Signaling):用于链路电源管理(L1/L2状态唤醒)。
· 测试LFPS信号的频率(30MHz~50MHz)和幅度(200mV~400mV)。

检测模块
· LFPS发生器/检测器

关键Channel
· TX/RX差分对(低频模式)

常见失效 & Debug
失效现象 可能原因 Debug方法
LFPS无响应 唤醒电路失效 检查PME(电源管理事件)寄存器
幅度不足 驱动器输出能力不足 测量TX端驱动电流

6. PCIe PHY Detect 测试

测试原理
· 检测链路对端设备是否存在(通过测量终端阻抗)。
· Hot Plug场景下验证PRSNT#信号电平。

检测模块
· 接收端终端电阻(通常50Ω)
· 热插拔控制器(HPC)
· 
关键Channel
· RX差分对(阻抗检测)
· PRSNT#引脚(热插拔)

常见失效 & Debug
失效现象 可能原因 Debug方法
设备未检测到 终端电阻开路/短路 测量RX端DC阻抗
PRSNT#信号异常 上拉电阻值错误 检查PCB上拉电路

测试对比总结

测试项 核心目标 关键指标 失效聚焦点
BERT BIST 误码率验证 BER ≤1E-12 信号完整性/时钟抖动
Internal Loopback PHY基本功能 零误码 SerDes逻辑缺陷
Tx DC/Vcm 输出驱动能力 Vdiff/Vcm范围 电源/对称性设计
LFPS 低功耗模式兼容性 频率/幅度合规 唤醒电路失效
Detect 链路连接检测 阻抗匹配/PRSNT#电平 终端电阻/热插拔电路

Debug工具箱

1. 仪器

o 高速示波器(眼图/Jitter分析)
o VNA(S参数测量)
o 协议分析仪(LTSSM状态跟踪)

2. 方法

o 扫描PMA寄存器,检查均衡参数
o 对比Golden Sample的S参数
o 电源噪声频谱分析

举个栗子:芯片PCIe IP Spec:Gen3x2, 8Gbps/lan

1. 规格解释

· Gen3:PCIe第三代协议,单通道速率8 GT/s(Giga-Transfers per second)
o 实际有效带宽 ≈ 7.88 Gbps/lane(扣除128b/130b编码开销)。

· x22个通道(Lane)并行,总带宽翻倍(≈15.76 Gbps)。
· 8Gbps/lane:强调单通道理论传输速率(8 GT/s × 1 bit/transfer = 8 Gbps)。

类比:相当于一条2车道的高速公路,每车道限速8Gbps,总带宽≈16Gbps。

2. 针对Gen3x2的ATE常见测试项目

(1)基础电气测试

测试项 目的 关键参数 仪器
差分阻抗测试 验证PCB阻抗匹配 100Ω ±10% TDR(时域反射计)
Tx/Rx DC电平 检查驱动电压 Vdiff=800-1200mV, Vcm≈0V 高速示波器
LFPS信号测试 低功耗模式兼容性 频率30-50MHz, 幅度200-400mV 协议分析仪

(2)信号完整性测试

测试项 目的 Pass标准 失效Debug
BERT(误码率) 验证链路可靠性 BER ≤1E-12 检查S参数、均衡设置
眼图测试 评估信号质量 眼高≥0.15UI, 眼宽≥0.3UI 调整CTLE/DFE参数
插入损耗(S21) 确认通道衰减 ≤-8dB@4GHz 优化PCB走线/材料

(3)协议层测试

测试项 目的 方法 关键观察点
链路训练测试 验证LTSSM状态机 强制进入Recovery状态 是否成功恢复L0状态
热插拔检测 检查PRSNT#信号功能 模拟插拔事件 中断触发是否正常
配置空间访问 验证BAR寄存器读写 读写配置空间 数据一致性校验

(4)电源管理测试

测试项 目的 触发条件 测量指标
L1/L2状态切换 低功耗模式稳定性 发送PME_TURN_OFF报文 唤醒时间≤100μs
WAKE#信号测试 唤醒功能验证 拉低WAKE#引脚 链路是否恢复L0状态

3. 典型失效案例与解决方案

失效现象 可能原因 解决方案
误码率超标 通道串扰或时钟抖动 1. 检查PCB层叠
2. 优化EQ参数
链路训练失败 阻抗不匹配或电源噪声 1. 测量PDN阻抗
2. 检查REFCLK
Tx Vcm偏移过大 共模反馈电路失效 1. 检查CMFB偏置
2. 更换PHY IP

4. 测试流程示例

1. 上电初始化 → 2. DC参数测试 → 3. BERT验证 → 4. 协议兼容性测试 → 5. 电源管理测试 → 6. Final Shmoo测试

结语:
各位ATE同仁们,这次咱们盘了盘 Design House常用的PCIe测试项目,从 BERT BIST 到 Internal Loopback,再到 Phy Tx参数测试,都是大家每天打交道的东西。特别是 Gen3x2(8Gbps/lane) 这种经典配置,测起来既熟悉又容易踩坑,信号完整性、抖动、眼图,哪个不是让人又爱又恨?

当然,测试过程中 Channel异常、误码率高、信号质量不达标 这些“日常惊喜”,相信大家也积累了不少实战经验。欢迎在评论区分享你的 Debug骚操作 或者 遇到的奇葩Case,一起集思广益!

下期预告(咱们继续深入高速信号的“深水区”):
· PAM4信号:原理很美好,测试很骨感?(NRZ已经不够玩了,PAM4的测试坑位等你来填)
· PCIe BallMap布局:怎么摆才能让信号不“打架”?(封装工程师和测试工程师的“爱恨情仇”)
· ATE LoadBoard设计:你的PCB走线在偷偷影响测试结果?(那些年,因为LoadBoard被坑过的日子…)

 
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